Microscopie électronique à balayage (MEB) / Microscopie électronique à transmission (MET) / Microanalyse élémentaire (EDX)

(Scanning Electron Microscopy (SEM) / Transmission electronic microscopy (TEM) / )

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La microscopie électronique à balayage est une technique qui permet de balayer la surface d'un échantillon à l'aide d'un faisceau électronique de quelques nanomètres de diamètre..

Cette méthode permet de distinguer des particularités morphologiques que n'autorise pas la microscopie optique avec un fort agrandissement (X 50 000) et une profondeur de champ élevée.

La dispersion d'énergie des rayons X (EDX), dénommée EDS ou EDAX, est une technique de spectroscopie des rayons X permettant d'identifier la composition élémentaire de tout type  de matériaux et objets. Les nombreuses applications comprennent les matériaux, la recherche de défauts de composition, la déformulation, ...

Ces deux méthodes couplées ont des avantages certains :

• Rapidité, l'imagerie à haute résolution permet l'identification des éléments présents

• Résolution spatiale quantitative EDX (EDA) avec l'analyse des zones définies par l'utilisateur sur la surface de l'échantillon

• Caractérisation des particules et des défauts

• Examen de la structure du grain et les effets de ségrégation

• Mesure d'épaisseur de revêtement à l'aide d'imagerie en coupe transversale de sections polies.

MEB SEP 40VP (ZEISS)

Microscope_electronique_a_balayage


Microscope haute résolution à canon à émission de champ (SCHOTTKY). Cet appareil peut fonctionner en mode pression contrôlée. Il permet la caractérisation de microstructures très fines (nanostructures). Il peut monter à une température de 1250°C ce qui permet une caractérisation microstructurale à haute température.

Applications typiques : 

• Caractérisation des structures matérielles

• L'évaluation des interfaces de réaction, des mécanismes de dégradation

• Caractérisation des défauts de surface, les taches et les résidus de métaux, verres, céramiques et polymères

• La mesure de l'épaisseur de structures en couches, des couches métallisées, des films d'oxyde, les matériaux composites en utilisant l'imagerie en coupe transversale

• Aux particules et à l'analyse des contaminants sur et dans les matériaux.

Industries typiques intéressées par la SEM / EDX

• Aéronautique

• Automobile

• Ferroviaire

• Nautisme

• Bâtiment, travaux

• Matériaux : polymères, plastiques, caoutchoucs, composites, tissus

• Minéraux, exploitation minière

• Verres, céramiques et matériaux réfractaires

• Santé, pharmaceutique

• Dispositifs médicaux, prothèses

• Semi-conducteurs

• Electronique


Exemple dans l'industrie des composites :

 Fibres de carbone présentant un contaminant 

Microscopie_electronique_a_balayage_fibre_de_carbone_faible_grossissement

Fibres de carbone pures

Microscopie_electronique_a_balayage_fibre_de_carbone_fort_grossissement

Exemple dans l'industrie métallurgique :

Faciès de rupture d'une pièce en cuivre présentant des inclusions d'oxyde de cuivre

Microscopie_electronique_a_balayage_fractographie_cuivre_inclusions_oxyde_de_cuivre_x3800

Exemple dans l'industrie du traitement de surface / matériaux inorganiques :

Dépot de diamant sur une surface

Microscopie_electronique_a_balayage_depot_diamant

 

Exemple science du vivant/biologie/entomologie :

Fourmi (reine)

Microscopie_electronique_a_balayage_fourmi_reine